本发明公开了一种基于半软开关调制技术的开关损耗评估方法及系统，涉及信息技术领域。本发明获取器件的寄生电感参数和缓冲电容参数，建立谐振电路工作模型，通过求解模型得到初始电压波形和初始电流波形，并计算对应的电压应力和电流应力；通过使用遗传算法优化器件的寄生电感参数和缓冲电容参数；根据优化后的器件参数调整缓冲电路设计，重新进行谐振过程的仿真，并对优化后的谐振电压波形和谐振电流波形进行频域分析，并对器件参数和缓冲电路设计进行优化。最后进行半软开关调制仿真，构建仿真开关损耗和实测开关损耗的温度系数映射关系，确定器件的最优设计方案，有效降低了器件的开关损耗，保证了器件工作在安全工作区域内。