Invention Publication
CN119522378A 测距装置
审中-公开
- Patent Title: 测距装置
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Application No.: CN202380052316.2Application Date: 2023-08-10
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Publication No.: CN119522378APublication Date: 2025-02-25
- Inventor: 帆足善明
- Applicant: 株式会社电装
- Applicant Address: 日本
- Assignee: 株式会社电装
- Current Assignee: 株式会社电装
- Current Assignee Address: 日本
- Agency: 永新专利商标代理有限公司
- Agent 朴勇
- Priority: 2022-139817 20220902 JP
- International Application: PCT/JP2023/029257 2023.08.10
- International Announcement: WO2024/048242 JA 2024.03.07
- Date entered country: 2025-01-07
- Main IPC: G01S7/481
- IPC: G01S7/481 ; G01S7/4914

Abstract:
测距装置(10)具备:射出照射光(Lo)的发光部(20);具有接受包含照射光的反射光的入射光(Li)的受光面(61)的受光部(60),该受光面的一个像素(65)包括多个单光子雪崩二极管(68);具有供向受光部入射的入射光通过的开口部(55)且限制入射光的通过量的光圈部(50);以及屈光力在开口部的长边方向和开口部的短边方向上不同的光学系统(40),该光学系统在长边方向上使入射光在受光面上聚光,在短边方向上使入射光在开口部聚光。
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