Invention Grant
- Patent Title: 为了检查目的具有二重核心逻辑电路和硬件故障输入的集成电子组件
- Patent Title (English): Integrated electronic component with duplicate core logic circuit and handware fault input for test purposes
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Application No.: CN00814930.5Application Date: 2000-10-24
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Publication No.: CN1203405CPublication Date: 2005-05-25
- Inventor: M·加梅斯卢 , K·克劳泽
- Applicant: 西门子公司
- Applicant Address: 德国慕尼黑
- Assignee: 西门子公司
- Current Assignee: 西门子公司
- Current Assignee Address: 德国慕尼黑
- Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
- Agent 郑立柱; 张志醒
- Priority: 19951541.7 1999.10.26 DE
- International Application: PCT/DE2000/003748 2000.10.24
- International Announcement: WO2001/031443 DE 2001.05.03
- Date entered country: 2002-04-26
- Main IPC: G06F11/16
- IPC: G06F11/16 ; G06F11/267
Abstract:
本发明具有至少两个同样的，可以同步运行的核心转换电路(KK0，KK1)的集成电子组件(ICT)有一个比较装置(VGL)，经过检查输入端(cpi)为了相互比较将核心转换电路(KK0，KK1)的相互对应的输出端(ou0-1，ou1-1；…；ou0-n，ou1-n)的信号输入给比较装置，其中将比较装置(VGA)的检查输入端(cpi)各自连接在经过故障控制输入端(cx0，cx1)可以控制的硬件故障输入(XR0，XR1)的前面。
Public/Granted literature
- CN1384936A 为了检查目的具有二重核心逻辑电路和硬件故障输入的集成电子组件 Public/Granted day:2002-12-11
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