非接触测试方法和装置
摘要:
本发明公开了一种对具有第一和第二侧面并且包括许多导体的电路(12)进行电测试的装置,该装置包括至少一个激励电极(14,16,20),其位置邻近电路的至少一个第一和第二侧面,并且在操作中以非接触方式对其施加一个激励电磁场,至少一个检测电极(25),其位置邻近电路的至少一个第一和第二侧面,并且在操作中以非接触方式检测由于对其各个部位施加的激励电磁场所产生的电磁场,至少一个激励电极和至少一个检测电极当中的至少一个包括至少两个电极,而至少其中之一的位置各自邻近电路的至少一个第一和第二侧面。本发明还公开了一种对具有第一和第二侧面并且包括许多导体的电路进行电测试的方法。
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