发明公开
- 专利标题: 非接触测试方法和装置
- 专利标题(英): Non-contact test method and apparatus
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申请号: CN99809751.9申请日: 1999-06-16
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公开(公告)号: CN1312911A公开(公告)日: 2001-09-12
- 发明人: B·哈杂努 , R·威伯 , H·戈兰
- 申请人: 奥伯技术有限公司
- 申请人地址: 以色列亚夫内
- 专利权人: 奥伯技术有限公司
- 当前专利权人: 奥宝科技
- 当前专利权人地址: 以色列亚夫内
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 陈霁; 王忠忠
- 优先权: 124961 1998.06.16 IL
- 国际申请: PCT/IL1999/00333 1999.06.16
- 国际公布: WO1999/65287 EN 1999.12.23
- 进入国家日期: 2001-02-16
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28 ; G01R31/315
摘要:
本发明公开了一种对具有第一和第二侧面并且包括许多导体的电路(12)进行电测试的装置,该装置包括至少一个激励电极(14,16,20),其位置邻近电路的至少一个第一和第二侧面,并且在操作中以非接触方式对其施加一个激励电磁场,至少一个检测电极(25),其位置邻近电路的至少一个第一和第二侧面,并且在操作中以非接触方式检测由于对其各个部位施加的激励电磁场所产生的电磁场,至少一个激励电极和至少一个检测电极当中的至少一个包括至少两个电极,而至少其中之一的位置各自邻近电路的至少一个第一和第二侧面。本发明还公开了一种对具有第一和第二侧面并且包括许多导体的电路进行电测试的方法。