发明公开
CN1432793A Y波导调制器半波电压测试方法及装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: Y波导调制器半波电压测试方法及装置
- 专利标题(英): Semi-wave voltage test method and device for Y-waveguide modulator
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申请号: CN03105246.0申请日: 2003-02-26
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公开(公告)号: CN1432793A公开(公告)日: 2003-07-30
- 发明人: 杨远洪 , 张惟叙 , 马静
- 申请人: 北京航空航天大学
- 申请人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 代理机构: 中国航空专利中心
- 代理商 李建英
- 主分类号: G01C19/58
- IPC分类号: G01C19/58
摘要:
本发明设及一种Y波导调制器半波电压测试方法及装置。本发明将待测Y波导接入萨格纳克(Sagnac)干涉仪光路,形成完整的萨格纳克(Sagnac)干涉仪;将周期为4τ、阶梯高度相等,每个阶梯宽度为τ的数字阶梯波加在Y波导的调制电极上,用A/D技术将探测器输出波形上0~τ区间的电平V1和τ~4τ区间的电平V2的差作为判据;由低到高改变阶梯高度,用计算机计算V1和V2的差,当这个差为0时,记下阶梯高度值,根据阶梯高度值和半波电压的关系可准确得到Y波导的半波电压值。这种方法容易实现,精度高。光功率的变化、光路损耗和光路中存在的各种位相误差对测量的准确性都没有影响。可实现Y波导半波电压的高精度全自动测量。
公开/授权文献
- CN1236280C Y波导调制器半波电压测试方法 公开/授权日:2006-01-11