发明公开

  • 专利标题: 具有深植入结的功率MOSFET
  • 专利标题(英): Power MOSFET with deep implanted junctions
  • 申请号: CN02817280.9
    申请日: 2002-07-02
  • 公开(公告)号: CN1552105A
    公开(公告)日: 2004-12-01
  • 发明人: K·斯普林J·曹
  • 申请人: 国际整流器有限公司
  • 申请人地址: 美国加利福尼亚州
  • 专利权人: 国际整流器有限公司
  • 当前专利权人: 国际整流器有限公司
  • 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
  • 代理机构: 上海专利商标事务所
  • 代理商 李家麟
  • 优先权: 60/303,059 2001.07.05 US; 10/187,580 2002.07.01 US
  • 国际申请: PCT/US2002/021127 2002.07.02
  • 国际公布: WO2003/005414 EN 2003.01.16
  • 进入国家日期: 2004-03-04
  • 主分类号: H01L33/00
  • IPC分类号: H01L33/00
具有深植入结的功率MOSFET
摘要:
示出一种MOS栅极的半导体装置,其包括深植入结和厚氧化物间隔物置于共用导电区的实质部分上。
公开/授权文献
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