发明公开
CN1577843A 半导体装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体装置
- 专利标题(英): Semiconductor device
-
申请号: CN200410049016.8申请日: 2004-06-11
-
公开(公告)号: CN1577843A公开(公告)日: 2005-02-09
- 发明人: 山下恭司 , 国清辰也 , 渡边哲也 , 金本俊几
- 申请人: 松下电器产业株式会社 , 株式会社瑞萨科技
- 申请人地址: 日本国大阪府
- 专利权人: 松下电器产业株式会社,株式会社瑞萨科技
- 当前专利权人: 松下电器产业株式会社,株式会社瑞萨科技
- 当前专利权人地址: 日本国大阪府
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 汪惠民
- 优先权: 2003-271883 2003.07.08 JP
- 主分类号: H01L27/00
- IPC分类号: H01L27/00 ; H01L29/78 ; G01R31/30 ; G01R31/316
摘要:
本发明涉及半导体装置。在电容测量电路中,配置PMISFET(1、2、3)和NMISFET(4~9)。布线(W1、W2、W3),在分别通过PMISFET(1、2、3),经过充电用电压供给部,与电源端子盘(PST)连接的同时,还分别通过NMISFET(7、8、9),经过电流取出部,与电流监测用端子盘(41)连接。再使电流监测用端子盘(41)与电流表(45)的探头接触,从而能测量电流(I)。实现了所需的端子盘数量少,而且能将3个以上的导体部件之间的电容(寄生电容)分离开后测量的电容测量电路。
公开/授权文献
- CN100347559C 具有电容测量电路的半导体装置 公开/授权日:2007-11-07
IPC分类: