发明授权
CN1669121B 曝光用转写掩模及曝光用转写掩模的图形更换方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 曝光用转写掩模及曝光用转写掩模的图形更换方法
- 专利标题(英): Transfer mask for exposure and pattern exchanging method of the same
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申请号: CN03816319.5申请日: 2003-07-07
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公开(公告)号: CN1669121B公开(公告)日: 2010-10-06
- 发明人: 奥村胜弥 , 永关一也 , 佐藤直行
- 申请人: 日本奥特克株式会社 , 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 日本奥特克株式会社,东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 日本奥特克株式会社,东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- 代理商 龙淳
- 优先权: 202097/2002 2002.07.11 JP
- 国际申请: PCT/JP2003/008608 2003.07.07
- 国际公布: WO2004/008508 JA 2004.01.22
- 进入国家日期: 2005-01-10
- 主分类号: H01L21/027
- IPC分类号: H01L21/027 ; G03F1/16 ; G03F7/20
摘要:
本发明为具备具有各自形成预定图形开口的多个单元的掩模部的曝光用转写掩模。所述多个单元各自根据在该单元上形成的开口图形,在使带电粒子从该单元一侧照射时,将该带电粒子束透过至该单元另一侧。由此,在该单元另一侧上配置被处理基板时,在该被处理基板上转写所述单元的开口图形,进而在该被处理基板上形成曝光图形。此外,在所述掩模部上,所述多个单元的一部分或全部可以更换。
公开/授权文献
- CN1669121A 曝光用转写掩模及曝光用转写掩模的图形更换方法 公开/授权日:2005-09-14
IPC分类: