Invention Publication
- Patent Title: 可检测在电源故障期间发生写入错误的存储器件及其方法
- Patent Title (English): Integrated circuit memory devices that support detection of write errors occuring during power failures and methods of operating same
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Application No.: CN200510103773.3Application Date: 2005-09-23
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Publication No.: CN1770312APublication Date: 2006-05-10
- Inventor: 郑贤模 , 朴赞益
- Applicant: 三星电子株式会社
- Applicant Address: 韩国京畿道
- Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee Address: 韩国京畿道
- Agency: 北京市柳沈律师事务所
- Agent 蒲迈文; 黄小临
- Priority: 77924/04 2004.09.30 KR
- Main IPC: G11C7/00
- IPC: G11C7/00 ; G11C16/06 ; G11C29/00 ; G06F12/00
Abstract:
支持错误检测的集成电路器件包括一非易失性存储器件，其中有一包含多页存储单元的存储阵列。也提供一存储控制器。该存储控制器通过电路连接到该非易失性存储器件，且被配置用于在一页面写入操作期间为该非易失性存储器件提供多段页面数据。该多段页面数据包括多段校验和数据，其确定在该页面写入操作期间待用写入数据编程的若干非易失性存储单元。在一页面读取操作期间也生成额外的校验和数据用于比较和错误检测。
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