发明授权
CN1891859B 氮氧化硅膜的形成方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 氮氧化硅膜的形成方法
- 专利标题(英): Method for forming silicon oxynitride film
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申请号: CN200610100571.8申请日: 2006-07-06
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公开(公告)号: CN1891859B公开(公告)日: 2010-11-24
- 发明人: 松浦广行
- 申请人: 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- 代理商 龙淳
- 优先权: 2005-197283 2005.07.06 JP
- 主分类号: C23C16/44
- IPC分类号: C23C16/44 ; C23C16/452 ; C23C16/513 ; C23C16/52 ; H01L21/314
摘要:
本发明提供一种成膜方法,在能够选择性地供给含有氯硅烷类气体的第一处理气体、含有氧化气体的第二处理气体和含有氮化气体的第三处理气体的处理区域内,利用CVD在被处理基板上形成氮氧化硅膜。该成膜方法具有相互交替的第一至第六工序。在第一、第三和第五工序中,分别供给第一、第二和第三处理气体,停止其他两种处理气体的供给。在第二、第四和第六工序中,停止第一、第二和第三处理气体的供给。所述第三和第五工序具有激励期间,所述第二和第三处理气体在由激励机构所激励的状态下被供给至所述处理区域。
公开/授权文献
- CN1891859A 氮氧化硅膜的形成方法、形成装置以及程序 公开/授权日:2007-01-10
IPC分类: