发明授权
CN1940977B 半导体装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体装置
- 专利标题(英): Semiconductor device
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申请号: CN200610159571.5申请日: 2006-09-27
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公开(公告)号: CN1940977B公开(公告)日: 2010-12-01
- 发明人: 楠本直人 , 高桥秀和 , 小林由佳
- 申请人: 株式会社半导体能源研究所
- 申请人地址: 日本神奈川
- 专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人地址: 日本神奈川
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 李镇江
- 优先权: 2005-285018 2005.09.29 JP
- 主分类号: G06K19/077
- IPC分类号: G06K19/077 ; H01L27/02 ; H01L23/522 ; H01L23/48
摘要:
本发明的目的在于提供一种半导体装置,该半导体装置能够实现批量生产,而且具有跟现有的小型元件不同的结构。本发明的目的还在于提供一种可以提高强度,并可以抑制在制造步骤中的元件的损坏,且可靠性以及成品率高的半导体装置的结构以及其制造方法。本发明的半导体装置包括:具有集成电路的层;形成在具有集成电路的层上,而且与具有集成电路的层电连接的第一端子;形成在第一端子上,而且与第一端子电连接的起天线作用的导电层;形成在具有集成电路的层上,而且与具有集成电路的层、起天线作用的导电层、第一端子不电连接的第二端子。
公开/授权文献
- CN1940977A 半导体装置 公开/授权日:2007-04-04