Invention Grant
CN1940977B 半导体装置
失效 - 权利终止
- Patent Title: 半导体装置
- Patent Title (English): Semiconductor device
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Application No.: CN200610159571.5Application Date: 2006-09-27
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Publication No.: CN1940977BPublication Date: 2010-12-01
- Inventor: 楠本直人 , 高桥秀和 , 小林由佳
- Applicant: 株式会社半导体能源研究所
- Applicant Address: 日本神奈川
- Assignee: 株式会社半导体能源研究所
- Current Assignee: 株式会社半导体能源研究所
- Current Assignee Address: 日本神奈川
- Agency: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- Agent 李镇江
- Priority: 2005-285018 2005.09.29 JP
- Main IPC: G06K19/077
- IPC: G06K19/077 ; H01L27/02 ; H01L23/522 ; H01L23/48

Abstract:
本发明的目的在于提供一种半导体装置,该半导体装置能够实现批量生产,而且具有跟现有的小型元件不同的结构。本发明的目的还在于提供一种可以提高强度,并可以抑制在制造步骤中的元件的损坏,且可靠性以及成品率高的半导体装置的结构以及其制造方法。本发明的半导体装置包括:具有集成电路的层;形成在具有集成电路的层上,而且与具有集成电路的层电连接的第一端子;形成在第一端子上,而且与第一端子电连接的起天线作用的导电层;形成在具有集成电路的层上,而且与具有集成电路的层、起天线作用的导电层、第一端子不电连接的第二端子。
Public/Granted literature
- CN1940977A 半导体装置 Public/Granted day:2007-04-04
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