Utility Model
CN212433027U 一种薄膜材料相变温度的测量装置
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种薄膜材料相变温度的测量装置
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Application No.: CN202021907952.9Application Date: 2020-09-04
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Publication No.: CN212433027UPublication Date: 2021-01-29
- Inventor: 金森林 , 李硕 , 任玲玲
- Applicant: 中国计量科学研究院
- Applicant Address: 北京市朝阳区北三环东路18号
- Assignee: 中国计量科学研究院
- Current Assignee: 中国计量科学研究院
- Current Assignee Address: 北京市朝阳区北三环东路18号
- Agency: 北京悦和知识产权代理有限公司
- Agent 司丽春
- Main IPC: G01N25/12
- IPC: G01N25/12
Abstract:
本实用新型实施例公开了一种薄膜材料相变温度的测量装置，包括：光学组件；真空腔，所述真空腔的顶部开设有入光孔，所述入光孔与所述光学组件的入射光线相对设置；高温炉，所述高温炉设置于所述真空腔内，所述高温炉的底部和侧向均安装有电阻加热片，所述电阻加热片通过导线与电源连接；样品室，所述样品室设置于所述高温炉内，所述样品室通过导热结构与所述电阻加热片导热连接，且样品放置于所述样品室内，热电偶内嵌于所述样品室中，并通过探头与所述样品相接触。其提高了薄膜材料相变温度的测量准确性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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