实用新型 CN216348411U 一种测量表面张力引起的软基体微变形的装置 有权 基本信息 请登陆查看更多内容 基本信息 请登陆查看更多内容 一种测量表面张力引起的软基体微变形的装置 专利标题： 一种测量表面张力引起的软基体微变形的装置 申请号： CN202123133473.3 申请日： 2021-12-14 公开(公告)号： CN216348411U 公开(公告)日： 2022-04-19 发明人: 张亚锋 , 董聪慧 , 吴晓兰 , 李恒 , 余家欣 申请人： 西南科技大学 申请人地址： 四川省绵阳市涪城区青龙大道中段59号 专利权人： 西南科技大学 当前专利权人： 西南科技大学 当前专利权人地址： 四川省绵阳市涪城区青龙大道中段59号 代理机构： 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 代理商 张忠庆 主分类号： G01B11/16 IPC分类号： G01B11/16 摘要： 本实用新型公开了一种测量表面张力引起的软基体微变形的装置，包括，光学平台以及平整的设置在所述光学平台上的激光器和高速摄像机，所述光学平台上可活动的设置有实验样品，且所述实验样品的上表面平整的设置有含单分散荧光微球的软基体；所述激光器的光束照射在所述软基体的上表面；所述高速摄像机的镜头聚焦于所述软基体的上表面。本实用新型具有操作便捷、测量精度高、能实时测量“润湿脊”变形的有益效果。 信息查询 中国专利公布公告 Global Dossier Espacenet IPC分类: G 物理 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B9/00组中包括的各式仪器本身入G01B9/00） G01B11/16 .用于计量固体的变形，例如光学应变仪
