- 专利标题： 晶硅电池片检测设备（透射式隐裂缺陷检测）
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申请号： CN202230327300.6申请日： 2022-05-31
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公开(公告)号： CN307607654S公开(公告)日： 2022-10-21
- 设计人: 冯佳斌 , 桑鑫华 , 朱思琪 , 吕辉 , 徐琼
- 申请人： 杭州利珀科技有限公司
- 申请人地址： 浙江省杭州市临安区青山湖街道大园路723号越秀星汇中心20层2001室
- 专利权人： 杭州利珀科技有限公司
- 当前专利权人： 杭州利珀科技有限公司
- 当前专利权人地址： 浙江省杭州市临安区青山湖街道大园路723号越秀星汇中心20层2001室
- 代理机构： 上海世圆知识产权代理有限公司
- 代理商 顾俊超
- LOC分类号： 10-05
摘要：
1.本外观设计产品的名称：晶硅电池片检测设备（透射式隐裂缺陷检测）。
2.本外观设计产品的用途：用于晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测。
3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：主视图。
2.本外观设计产品的用途：用于晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测。
3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：主视图。