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公开(公告)号：CN118641479A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202411117527.2
申请日：2024-08-15
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开一种硅片崩边缺陷视觉检测装置、方法及系统，属于硅片检测分选领域。所述硅片崩边缺陷视觉检测装置包括：第一线性光源、第一线性棱镜、第二线性棱镜和机器视觉相机。所述第一线性光源的出光通过所述第一线性棱镜镜面反射到所述被测硅片的被测端面，再通过所述被测硅片的被测端面镜面反射到所述第二线性棱镜，最后通过所述第二线性棱镜镜面反射到所述机器视觉相机。本发明的有益效果在于：通过所述机器视觉相机能够采样到关于所述被测硅片的被测端面的检测图像，进而根据所述检测图像可判断所述被测硅片的被测端面是否存在崩边缺陷。
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公开(公告)号：CN118463805A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410903075.4
申请日：2024-07-08
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开一种硅片搭边视觉检测装置及方法。所述硅片搭边视觉检测装置包括：面阵相机。所述面阵相机在拍摄时对位于用于锁紧硅片边角的载板旋钮，所述面阵相机的视场覆盖所述硅片边角和所述载板旋钮，以得到关于所述硅片边角和所述载板旋钮的检测图像。本发明的有益效果在于：通过所述硅片搭边视觉检测装置及方法，能够精准地检测是否硅片搭边以及是否锁紧载板旋钮，进而有效地避免硅片因搭边而导致锁紧碎片以及因未锁紧载板旋钮而导致掉落的情形。
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公开(公告)号：CN117723558A
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202311544747.9
申请日：2023-11-20
申请人： 浙江大学 , 杭州利珀科技有限公司
IPC分类号： G01N21/95 , G01N21/958 , G01N21/01 , G01M11/02
摘要： 本发明公开了一种用于大口径光学元件检测的新型扫描方法，选取直线电机驱动导轨以及全局曝光探测器，构建扫描装置；根据硬件各项参数，经过计算确定合适的导轨移动速度和探测器的曝光时间，采图需满足图像拼接要求的同时无拖影；确定选取的曝光时间与导轨速度是否满足需求；对待测光学元件，从扫描起始点到扫描终点采用蛇形扫描路径，扫描过程中，直线电机控制导轨以选取的导轨速度进行匀速运动；实时返回导轨位置并与理论值进行对比，达到理论值时发送信号到数据采集单元利用选取的曝光时间进行采图，获得大口径光学元件的子孔径图像。利用本发明，既能满足图像拼接需求，还能大幅缩短扫描时间。
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公开(公告)号：CN116879316B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311126103.8
申请日：2023-09-04
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开基于光纤光源的膜材表面缺陷检测系统及方法。基于光纤光源的膜材表面缺陷检测系统包括：机器视觉相机和机器视觉光源。所述机器视觉光源是光纤光源。所述光纤光源包括：光纤阵列。所述光纤阵列具有第一光纤行和相邻于所述第一光纤行的第二光纤行。所述第一光纤行与所述第二光纤行在行方向上呈夹角设置，使得两者照明重叠区域内具有交叉打光的特性。本发明的有益效果在于：基于所述光纤光源具有高指向性、高照度性及交叉打光的结构特性，以此提高所述机器视觉相机对所述膜材表面的缺陷检测精度，特别是针对于MD划伤缺陷、凹凸点缺陷等缺陷类型。
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公开(公告)号：CN117053704A
公开(公告)日：2023-11-14
申请号：CN202311008434.1
申请日：2023-08-11
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开一种单晶硅棒直拉工艺硅料绝对液距测量方法。所述测量方法是对关于导流筒、硅料液面和导流筒在硅料液面的倒影的图像作导流筒弧和硅料液面弧的二维特征检测，根据所述导流筒弧和所述硅料液面弧的二维特征确定所述导流筒弧和所述硅料液面弧的三维坐标，利用所述导流筒弧和所述硅料液面弧的三维坐标通过空间圆拟合算法拟合出导流筒下沿空间圆和导流筒下沿倒影空间圆，根据所述导流筒下沿空间圆与所述导流筒下沿倒影空间圆之间的距离确定所述硅料绝对液距。本发明的有益效果：相比目前普遍采用的计算导流筒到其倒影的像素距离并结合抬锅来确定像素物理值转换所需的比例系数和偏移量的单目测量方法，本发明直接给出液距变化的物理量。
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公开(公告)号：CN115274916B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202210545671.0
申请日：2022-05-19
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开光伏晶硅原硅片隐裂定位裂片系统及方法，用于将初始尺寸的原硅片大片切割成小于初始尺寸的原硅片小片，所述原硅片大片是或主要是缺陷片，包括：传输单元、上料单元、大片隐裂缺陷检测单元、原硅片切割单元、小片隐裂缺陷检测单元、小片尺寸检测单元、下料单元。本发明的有益效果在于：所述光伏晶硅原硅片隐裂定位裂片系统减少所述原硅片大片在再生产过程中的材料损耗，同时切割后的所述原硅片小片完全可以用于电池片生产。因此所述光伏晶硅原硅片隐裂定位裂片系统非常具有实用性和必要性，既能废片再利用产生一定的经济效益，又减少重新生产过程中的能耗，体现节能和环保的理念。
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公开(公告)号：CN106814075B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN201611012206.1
申请日：2016-11-17
申请人： 杭州利珀科技有限公司
IPC分类号： G01N21/89
摘要： 本发明涉及平面片材表面缺陷检测技术领域，具体公开了一种EVA胶膜检测系统。本发明的EVA胶膜检测系统，工业相机的显示调整为黑白图像，线光源发出的光线通过匀光板后再照射到EVA胶膜上，使得工业相机拍摄中显示的黑膜图像被匀光板处理为白膜图像，使EVA胶膜上的黑点缺陷更为清晰；同时，光源组件和相机组件相对EVA胶膜的距离和位置均可调，以适应不同规格的EVA胶膜表面检测，而且还可以调整检测精度；另外，自动化检测的方式与现有技术人工检测相比，检测效率和检测精度更高。
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公开(公告)号：CN115060322A
公开(公告)日：2022-09-16
申请号：CN202210736638.6
申请日：2022-06-27
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开光伏方棒自动在线检测系统，包括：第一工位的方棒尺寸检测装置、第二工位的方棒缺陷检测装置、第三工位的方棒自动清洗装置、第四工位的方棒外观检测装置、第五工位的方棒自动划线装置、方棒移位装置。本发明的有益效果在于：克服光伏方棒由人工检测带来效率低下、检测能力有限及自动化程度低的缺点，全自动外观及内部缺陷把控，提高整体自动化能力，大大降低不良品流出的风险，提高现场的产能，减少人员的投入。
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公开(公告)号：CN111751386B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202010731302.1
申请日：2020-07-27
申请人： 杭州利珀科技有限公司
IPC分类号： G01N21/958
摘要： 本发明公开机器视觉光学检测系统及方法，用于检测透明板体是否存在表面缺陷和/或内部缺陷，所述透明板体具有板体顶面、平行于所述板体顶面的板体底面及所述板体顶面与所述板体底面间的板体侧面，包含有，准直光源，其布置于所述透明板体的所述板体侧面侧，所述准直光源对准于所述板体侧面，所述准直光源所形成的准直光束以平行于所述板体顶面的方式穿过所述板体侧面进入所述透明板体的内部；以及，机器视觉相机，其布置于所述透明板体的所述板体顶面侧，所述机器视觉相机用于图像摄取所述透明板体。本发明的有益效果在于：利用本检测系统，可有效地区分透明板体的缺陷是表面缺陷还是内部缺陷，大大提高产品检测的精确性。
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公开(公告)号：CN111229647B
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202010199065.9
申请日：2020-03-20
申请人： 杭州利珀科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种可连续吸附的太阳能电池片分拣系统，包括机架以及设于机架上的控制机构、输送机构和真空形成板组；真空形成板组上设有气动接头、气管和通过气管与气动接头连接的真空发生器，真空形成板组底面设有吸附孔组，相邻两组吸附孔组之间的间距小于太阳能电池片在真空形成板组长度方向上的宽度的一半；控制机构控制真空发生器动作和调节流入真空发生器的气流量，真空形成板组将太阳能电池片吸附至输送机构，输送机构输送太阳能电池片至指定位置；本发明能够满足不间断生产的要求，可以将太阳能缺陷片放到指定位置，采用了更简单的加工和装配工艺，降低了成本，并且吸附力的大小可以手动进行调整。
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