发明授权
- 专利标题： An apparatus for measuring the characteristics of an optical system
- 专利标题（中）： 一种用于测量光学系统特性的装置
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申请号： EP82101639.1申请日： 1982-03-03
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公开(公告)号： EP0059480B1公开(公告)日： 1987-01-28
- 发明人: Tamaki, Hiroshi
- 申请人： TOKYO KOGAKU KIKAI KABUSHIKI KAISHA
- 申请人地址： 75-1, Hasunuma-cho Itabashi-ku Tokyo JP
- 专利权人： TOKYO KOGAKU KIKAI KABUSHIKI KAISHA
- 当前专利权人： TOKYO KOGAKU KIKAI KABUSHIKI KAISHA
- 当前专利权人地址： 75-1, Hasunuma-cho Itabashi-ku Tokyo JP
- 代理机构： Lorenz, Eduard
- 优先权： JP30223/81 19810303; JP85490/81 19810603
- 主分类号： G01M11/02
- IPC分类号： G01M11/02
公开/授权文献
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