发明公开
EP0087025A2 Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Messung der Phasenlage bzw. Phasenverschiebung zweier Impulsfolgen 失效
的方法和装置的相位位置或两个脉冲序列的相位偏移的高精度的测量。

Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Messung der Phasenlage bzw. Phasenverschiebung zweier Impulsfolgen
摘要:
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung und ein Verfahren zur hochgenauen Messung der Phasenlage bzw. Phasenverschiebung zweier Impulsfolgen unabhängig von der Impulsfrequenz. Hierzu werden die Drehwinkel zweier Rotationskörper 1 und 2 quantisiert, durch inkrementale Drehgeber 3 und 4 in Impulsfolgen umgewandelt, und diese anschließend in zumindest zwei differenten Digitalzähler 5 und 6 erfaßt (Figure 1). Das aus einer nachfolgenden digitalen Differenzbildung der beiden Zählerstände in einem Addierer 7 gebildete digitale Differenzergebnis wird in einem Digital/Analog-Konverter 8 gewandelt und durch Dekodierung in einem Tiefpaßfiler 9 zu einem kontinuierlichen, analogen Signal des Differenzdrehwinkels Δϕ umgeformt, welches einer Anzeigevorrichtung 10 zugeführt wird. Zur Weiterverarbeitung des Δϕ-proportionalen Analogsignales zur Bestimmung der Differenzwinkelgeschwindigkeit oder des pro Umdrehung, pro Winkel, bzw. pro Zeiteinheit aufgelaufenen Differenzdrehwinkels ist zwischen dem Tiefpaßfilter 9 und der Anzeigevorrichtung 10 zusätzlich ein taktgesteuertes Speicherglied 30 zwischengeschaltet. Die Taktung kann mittels der Drehgeber 3 und 4, der Digitalzähler 5 und 6 oder mittels Vorgabe eines Zeittaktes durch ein separates Zeitglied 31 erfolgen. Durch Vorschaltung eines Frequenzzählers 32 vor die Anzeigevorrichtung 10 ist außerdem eine Frequenzbestimmung möglich.
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