发明授权
EP0116116B1 Lift-off compensation of eddy current probes 失效
EDDY电流探头的提升补偿

  • 专利标题: Lift-off compensation of eddy current probes
  • 专利标题(中): EDDY电流探头的提升补偿
  • 申请号: EP83109668.0
    申请日: 1983-09-28
  • 公开(公告)号: EP0116116B1
    公开(公告)日: 1988-09-07
  • 发明人: Bains, James A., Jr.
  • 申请人: AMF INCORPORATED
  • 申请人地址: World Headquarters 777 Westchester Avenue White Plains New York 10604 US
  • 专利权人: AMF INCORPORATED
  • 当前专利权人: AMF INCORPORATED
  • 当前专利权人地址: World Headquarters 777 Westchester Avenue White Plains New York 10604 US
  • 代理机构: Eisenführ, Speiser & Partner
  • 优先权: US457321 19830111
  • 主分类号: G01N27/90
  • IPC分类号: G01N27/90
Lift-off compensation of eddy current probes
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