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发明公开
EP0125950A2 Perfectionnements apportés aux spectromètres de masse 失效
质谱仪。

  • 专利标题： Perfectionnements apportés aux spectromètres de masse
  • 专利标题（英）： Mass spectrometers
  • 专利标题（中）： 质谱仪。
  • 申请号： EP84400707.0
    申请日： 1984-04-10
  • 公开(公告)号： EP0125950A2
    公开(公告)日： 1984-11-21
  • 发明人: Slodzian, Georges , Lorin, Jean-Claude , Dennebouy, Roger , Chaintreau, Marcel
  • 申请人： CAMECA
  • 申请人地址： 103, Boulevard Saint-Denis F-92400 Courbevoie FR
  • 专利权人： CAMECA
  • 当前专利权人： CAMECA
  • 当前专利权人地址： 103, Boulevard Saint-Denis F-92400 Courbevoie FR
  • 代理机构： Turlèque, Clotilde
  • 优先权： FR8306375 19830419
  • 主分类号： H01J49/30
  • IPC分类号： H01J49/30 ;  H01J49/32
Perfectionnements apportés aux spectromètres de masse
摘要：
Spectromètre de masse comportant une source d'ions (1), des moyens d'accélération (A) propres à communiquer aux ions une énergie dépendant essentiellement de leur charge électrique, des moyens (11) pour établir dans un secteur (12) un champ magnétique orthogonal au plan de la trajectoire des ions pour incurver cette trajectoire, et des moyens (15) pour détecter des ions. On prévoit à l'entrée (17) du secteur magnétique (12), des moyens électrostatiques (18) propres à modifier la vitesse tangentielle des ions, et donc leur énergie, d'une manière telle que des ions de masses différentes puissent, à des instants différents, suivre la même trajectoire incurvée dans le secteur magnétique (12).
Application, notamment, aux spectromètres de masse à double focalisation.
摘要（英）：

mass spectrometer comprising an ion source (1), means acceleration (A) communicate own ion energy primarily dependent on electric load, means (11) to establish in an area (12) a field magnetic orthogonal to the plane of the ion trajectory for curving this path, and means (15) for detecting ions. the input is provided (17) of the magnetic sector (12), electrostatic means (18) for influencing the tangential velocity of the ions, and thus the energy, in such a way that ions of different masses, can, different times, follow the same curved path in the magnetic sector (12). Application in particular to mass spectrometers double focusing.

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