发明公开
EP0177566A1 METHOD AND APPARATUS FOR PRECISION SEM MEASUREMENTS
失效
法精确测定由ABTASTELELEKTRONENMIKROSKOPS手段。
- 专利标题: METHOD AND APPARATUS FOR PRECISION SEM MEASUREMENTS
- 专利标题(中): 法精确测定由ABTASTELELEKTRONENMIKROSKOPS手段。
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申请号: EP85901788.0申请日: 1985-03-20
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公开(公告)号: EP0177566A1公开(公告)日: 1986-04-16
- 发明人: SEILER, Dieter, Georg , SULWAY, David, Vernon
- 申请人: NIXON, Larry Sheldon , VICKERS PLC
- 申请人地址: 1801 K Street, N.W. Washington, DC 20006 US
- 专利权人: NIXON, Larry Sheldon,VICKERS PLC
- 当前专利权人: NIXON, Larry Sheldon,VICKERS PLC
- 当前专利权人地址: 1801 K Street, N.W. Washington, DC 20006 US
- 代理机构: Downey, William Gerrard, et al
- 优先权: US19840591616 19840320
- 国际公布: WO1985004250 19850926
- 主分类号: G01B11
- IPC分类号: G01B11 ; G01B15 ; G01B21 ; G01D18 ; G01N23 ; G01Q10 ; G01Q30 ; H01J37 ; H01L21
摘要:
Un procédé et un appareil pour effectuer des mesures précises d'un objet ou d'un spécimen (13) sur des distances inférieures au micron comportent un plateau (18) déplaçable sous le contrôle d'un microprocesseur (20). Un instrument, par exemple un microscope électronique à balayage (10), balaye l'object (13) afin d'en obtenir une première représentation par balayage. Le plateau (18) est uensuite déplacé à une distance connue précise avant d'effectuer un second balayage. Les résultats des deux balayages sont mémorisés et comparés par le microprocesseur (20) afin de déterminer l'amplitude apparente du déplacement du plateau en unités arbitraires. On fait alors correspondre cette amplitude apparente à la distance de déplacement précise connue afin de calibrer les unités arbitraires. Le microprocesseur (20) peut ensuite calculer la mesure désirée à partir des données de n'importe lequel des deux balayages stockés dans le microprocesseur.
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