发明授权
- 专利标题： Röntgendiagnostikeinrichtung
- 专利标题（英）： X-ray diagnostic apparatus
- 专利标题（中）： X射线诊断装置
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申请号： EP86115629.7申请日： 1986-11-11
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公开(公告)号： EP0226037B1公开(公告)日： 1989-10-25
- 发明人: Kranberg, Heinz-Erik, Dipl.-Ing. , Hallmann, Horst, Dipl.-Ing.(FH)
- 申请人： SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
- 申请人地址： Wittelsbacherplatz 2 80333 München DE
- 专利权人： SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
- 当前专利权人： SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
- 当前专利权人地址： Wittelsbacherplatz 2 80333 München DE
- 优先权： DE3541612 19851125
- 主分类号： H05G1/56
- IPC分类号： H05G1/56
公开/授权文献
- EP0226037A1 Röntgendiagnostikeinrichtung 公开/授权日：1987-06-24
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