发明公开
EP0324146A1 Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des Läuferwiderstandes einer Drehfeldmaschine 失效
用于确定旋转磁场电机的转子电阻的方法和装置。

  • 专利标题: Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des Läuferwiderstandes einer Drehfeldmaschine
  • 专利标题(英): Method and apparatus for the determination of the armature resistance of an induction machine
  • 专利标题(中): 用于确定旋转磁场电机的转子电阻的方法和装置。
  • 申请号: EP88121422.5
    申请日: 1988-12-21
  • 公开(公告)号: EP0324146A1
    公开(公告)日: 1989-07-19
  • 发明人: Schmidt, Rolf, Dipl.-Ing.Schierling, Hubert, Dr.
  • 申请人: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
  • 申请人地址: Wittelsbacherplatz 2 80333 München DE
  • 专利权人: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
  • 当前专利权人: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
  • 当前专利权人地址: Wittelsbacherplatz 2 80333 München DE
  • 优先权: DE3800915 19880114
  • 主分类号: H02P5/40
  • IPC分类号: H02P5/40 H02P7/62
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des Läuferwiderstandes einer Drehfeldmaschine
摘要:
Um den Läuferwiderstand einer Drehfeldmaschine zu bestimmen, wird im Ständer über eine feldorientierte Regelung ein Strom eingeprägt, der in Richtung des Flusses einen harmonischen, über der Nennfrequenz der Maschine liegenden Anteil besitzt. Aus Strom, Läuferlage und einem nachstellbaren Parameterwert für den Läuferwiderstand rechnet ein Strommodell eine feld­parallele EMK-Komponente EF1 aus, deren harmonischer Anteil EF1 ∼ isoliert wird. Zusätzlich rechnet aus Strom und Span­nung ein Spannungsmodell feldparallele Komponente des EMK-­Vektors als Stromkomponenten-Sollwert EF1′ und deren harmo­nischen Anteil EF1 aus. Ein Korrekturregler CR1 stellt den Parameter r R des Läuferwiderstandes solange nach, bis die Differenz beider isolierten harmonischen EMK-Anteile ver­schwindet. Das Testsignal wirkt sich praktisch nicht im Fluß und im Drehmoment der Maschine aus. Gleichzeitig kann auch der Ständerwiderstand r S bzw. die Streuinduktivität x St ermittelt werden.
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