发明授权
EP0403436B1 Anordnung zum Test digitaler Schaltungen mit konfigurierbaren, in den Test einbezogenen Takterzeugungsschaltungen
失效
安排用于测试数字电路与可配置的，包括在测试时钟生成电路。
- 专利标题： Anordnung zum Test digitaler Schaltungen mit konfigurierbaren, in den Test einbezogenen Takterzeugungsschaltungen
- 专利标题（英）： Device for testing digital circuits by means of adaptable clocking circuits included in the test
- 专利标题（中）： 安排用于测试数字电路与可配置的，包括在测试时钟生成电路。
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申请号： EP90810424.3申请日： 1990-06-11
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公开(公告)号： EP0403436B1公开(公告)日： 1994-09-14
- 发明人: Oehm, Jürgen, Dipl.-Physiker , Näther, Marcus, Dr. Ing. , Grobelny, Lothar, Dipl.-Ing. , Hutschenreiter, Birgit, Dipl.-Math.
- 申请人： Zentrum Mikroelektronik Dresden GmbH
- 申请人地址： Grenzstrasse 28 D-01109 Dresden DE
- 专利权人： Zentrum Mikroelektronik Dresden GmbH
- 当前专利权人： Zentrum Mikroelektronik Dresden GmbH
- 当前专利权人地址： Grenzstrasse 28 D-01109 Dresden DE
- 代理机构： Fischer, Franz Josef
- 优先权： DD329515 19890613
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G01R31/318 ; G06F11/26
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