发明公开
EP0499319A1 Procédé de mesure de la position précise du centre énergétique d'une tache image d'un objet lumineux sur une détecteur photosensible
失效
Verfaren测量光束上的光传感器的物体的图像光斑的能量中心的精确位置。
- 专利标题： Procédé de mesure de la position précise du centre énergétique d'une tache image d'un objet lumineux sur une détecteur photosensible
- 专利标题（英）： Method for measuring the precise position of the energy centre of an image spot of a luminous object on a photosensor
- 专利标题（中）： Verfaren测量光束上的光传感器的物体的图像光斑的能量中心的精确位置。
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申请号： EP92200326.4申请日： 1992-02-06
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公开(公告)号： EP0499319A1公开(公告)日： 1992-08-19
- 发明人: Vilaire, Didier, Société Civile S.P.I.D. , Pezant, Christian, Société Civile S.P.I.D.
- 申请人： SOCIETE ANONYME D'ETUDES ET REALISATIONS NUCLEAIRES S.O.D.E.R.N. , Philips Electronics N.V.
- 申请人地址： 20, Avenue Descartes 94450 Limeil-Brevannes FR
- 专利权人： SOCIETE ANONYME D'ETUDES ET REALISATIONS NUCLEAIRES S.O.D.E.R.N.,Philips Electronics N.V.
- 当前专利权人： SOCIETE ANONYME D'ETUDES ET REALISATIONS NUCLEAIRES S.O.D.E.R.N.,Philips Electronics N.V.
- 当前专利权人地址： 20, Avenue Descartes 94450 Limeil-Brevannes FR
- 代理机构： Pyronnet, Jacques
- 优先权： FR9101814 19910215
- 主分类号： G01S3/784
- IPC分类号： G01S3/784
摘要：
Le détecteur est une matrice à transfert de charges et la mesure est effectuée par calcul barycentrique. Les étapes du procédé sont les suivantes :
Centrer le champ de mesure (30) sur la position estimée de l'objet lumineux (PI(1)) ; sélectionner un premier groupe de NS pixels les plus brillants (31) ; sélectionner parmi ces NS les NA pixels agglomérés au pixel de niveau maximal (37) ; finalement effectuer un calcul barycentrique sur les seuls NA pixels agglomérés (IE) du champ de mesure.
Application à la visée stellaire particulièrement pour la manoeuvre d'un satellite manoeuvrant.
Centrer le champ de mesure (30) sur la position estimée de l'objet lumineux (PI(1)) ; sélectionner un premier groupe de NS pixels les plus brillants (31) ; sélectionner parmi ces NS les NA pixels agglomérés au pixel de niveau maximal (37) ; finalement effectuer un calcul barycentrique sur les seuls NA pixels agglomérés (IE) du champ de mesure.
Application à la visée stellaire particulièrement pour la manoeuvre d'un satellite manoeuvrant.
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