Invention Grant
EP0568439B1 Procédé et circuit de détection de fuites de courant dans une ligne de bit
失效
的检测方法和用于位线的功率损耗的电路。
- Patent Title: Procédé et circuit de détection de fuites de courant dans une ligne de bit
- Patent Title (English): Process and circuit for detecting current leaks in a bit line
- Patent Title (中): 的检测方法和用于位线的功率损耗的电路。
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Application No.: EP93401085.1Application Date: 1993-04-27
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Publication No.: EP0568439B1Publication Date: 1994-12-14
- Inventor: Rouy, Olivier, Cabinet BALLOT-SCHMIT
- Applicant: SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.A.
- Applicant Address: 7, Avenue Galliéni 94250 Gentilly FR
- Assignee: SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.A.
- Current Assignee: SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.A.
- Current Assignee Address: 7, Avenue Galliéni 94250 Gentilly FR
- Agency: Schmit, Christian Norbert Marie
- Priority: FR9205420 19920430
- Main IPC: G11C29/00
- IPC: G11C29/00
Public/Granted literature
- EP0568439A1 Procédé et circuit de détection de fuites de courant dans une ligne de bit Public/Granted day:1993-11-03
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