公开(公告)号：EP0568439B1

公开(公告)日：1994-12-14

申请号：EP93401085.1

申请日：1993-04-27

Applicant: SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.A.

Inventor： Rouy, Olivier, Cabinet BALLOT-SCHMIT

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/025 ,  G11C16/04 ,  G11C29/02 ,  G11C29/50 ,  G11C2029/5006

公开(公告)号：EP0568439A1

公开(公告)日：1993-11-03

申请号：EP93401085.1

申请日：1993-04-27

Applicant: SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.A.

Inventor： Rouy, Olivier, Cabinet BALLOT-SCHMIT

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/025 ,  G11C16/04 ,  G11C29/02 ,  G11C29/50 ,  G11C2029/5006

Abstract: L'invention concerne un circuit de détection de fuites de courant sur une ligne de bit d'une mémoire morte électriquement programmable.
Il comprend essentiellement un générateur de courant 2 et un moyen 8 pour appliquer zéro volts sur la grille de toutes les cellules de la ligne de bit. L'information de détection est délivrée par un circuit de comparaison 1. Elle correspond au résultat de la comparaison entre le courant de test et le courant circulant sur la ligne de bit. Avantageusement le circuit de détection est incorporé au circuit de lecture de la mémoire.
L'invention concerne aussi la méthode de détection associée et un circuit mémoire comprenant un tel circuit de détection.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于检测电可编程只读存储器的位线中的电流泄漏的电路。 它基本上包括电流发生器2和用于将零电压施加到位线的所有单元的栅格的装置8。 检测信息由比较电路1传送。它对应于测试电流与流过位线的电流之间的比较结果。 有利地，检测电路并入存储器读出电路中。 本发明还涉及相关的检测方法和包括这种检测电路的存储电路。