发明授权
- 专利标题： Analyzer
- 专利标题（中）： 分析仪
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申请号： EP01303710.6申请日： 2001-04-24
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公开(公告)号： EP1150102B1公开(公告)日： 2006-09-27
- 发明人: Sone, Yuya, c/o Seiko Instruments Inc.
- 申请人： SII NanoTechnology Inc.
- 申请人地址： 8 Nakase 1-chome, Mihama-ku Chiba-shi, Chiba 261-8507 JP
- 专利权人： SII NanoTechnology Inc.
- 当前专利权人： SII NanoTechnology Inc.
- 当前专利权人地址： 8 Nakase 1-chome, Mihama-ku Chiba-shi, Chiba 261-8507 JP
- 代理机构： Sturt, Clifford Mark
- 优先权： JP2000130828 20000428
- 主分类号： G01D9/00
- IPC分类号： G01D9/00 ; G06F17/40
公开/授权文献
- EP1150102A1 Analyzer 公开/授权日：2001-10-31
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