发明授权
- 专利标题： Verfahren zum Testen einer Vielzahl von Wortleitungen einer Halbleiterspeicheranordnung
- 专利标题（英）： Method for testing a plurality of word lines in a semiconductor memory device
- 专利标题（中）： 一种用于测试多个半导体存储器件字线的方法
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申请号： EP01111474.1申请日： 2001-05-10
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公开(公告)号： EP1176604B1公开(公告)日： 2007-01-03
- 发明人: Brass, Eckhard, Dr. , Schaffroth, Thilo , Schnabel, Joachim , Schneider, Helmut
- 申请人： Infineon Technologies AG
- 申请人地址： St.-Martin-Strasse 53 81669 München DE
- 专利权人： Infineon Technologies AG
- 当前专利权人： Infineon Technologies AG
- 当前专利权人地址： St.-Martin-Strasse 53 81669 München DE
- 代理机构： Müller - Hoffmann & Partner
- 优先权： DE10026275 20000526
- 主分类号： G11C29/00
- IPC分类号： G11C29/00
公开/授权文献
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