发明公开
- 专利标题： Appareil de mesure de hauteur
- 专利标题（英）： Height gauge
- 专利标题（中）： Höhenmessgerät
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申请号： EP01811219.3申请日： 2001-12-12
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公开(公告)号： EP1319925A1公开(公告)日： 2003-06-18
- 发明人: Jordil, Pascal , Zanier, Adriano
- 申请人： Brown & Sharpe Tesa S.A.
- 申请人地址： Rue Bugnon 38 1020 Renens CH
- 专利权人： Brown & Sharpe Tesa S.A.
- 当前专利权人： Brown & Sharpe Tesa S.A.
- 当前专利权人地址： Rue Bugnon 38 1020 Renens CH
- 代理机构： Saam, Christophe
- 主分类号： G01B5/06
- IPC分类号： G01B5/06 ; G01B5/00 ; B23Q16/00 ; G01B5/245
摘要：
Colonne de mesure de hauteur comprenant un bâti attaché à un socle, ledit bâti déterminant l'axe de mesure, la perpendicularité entre le bâti et le socle étant réglable.
Méthode de réglage de la perpendicularité d'une colonne de mesure de hauteur par rapport à une surface de référence par le réglage de la perpendicularité entre le bâti et le socle de ladite colonne de mesure de hauteur.
Méthode de réglage de la perpendicularité d'une colonne de mesure de hauteur par rapport à une surface de référence par le réglage de la perpendicularité entre le bâti et le socle de ladite colonne de mesure de hauteur.
公开/授权文献
- EP1319925B1 Appareil de mesure de hauteur 公开/授权日：2007-10-31
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