发明授权
- 专利标题： Verfahren und Vorrichtung zur schnellen tomographischen Messung der elektrischen Leitfähigkeitsverteilung in einer Probe
- 专利标题（英）： Method and device for fast tomographic measurement of electrical conductivity distribution within a sample
- 专利标题（中）： 对于一个样本内导电率分布的快速断层测量的方法和装置
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申请号： EP03017321.5申请日： 2003-07-31
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公开(公告)号： EP1391751B1公开(公告)日： 2008-08-13
- 发明人: Zimmermann, Egon , Glaas, Walter , Verweerd, Arre , Tillmann, Axel, Dr. , Kemna, Andreas, Dr.
- 申请人： Forschungszentrum Jülich GmbH
- 申请人地址： Wilhelm-Johnen-Strasse 52425 Jülich DE
- 专利权人： Forschungszentrum Jülich GmbH
- 当前专利权人： Forschungszentrum Jülich GmbH
- 当前专利权人地址： Wilhelm-Johnen-Strasse 52425 Jülich DE
- 优先权： DE10238824 20020823
- 主分类号： G01V3/06
- IPC分类号： G01V3/06 ; G01N27/20
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