Vorrichtung zur gleichzeitigen Einspeisung von elektrischen Signalen und zur Messung des Potentials in Proben
    1.
    发明公开
    Vorrichtung zur gleichzeitigen Einspeisung von elektrischen Signalen und zur Messung des Potentials in Proben 审中-公开
    装置的电信号的同时供给和用于测量样品中的潜在

    公开(公告)号:EP1391737A3

    公开(公告)日:2005-05-18

    申请号:EP03016763.9

    申请日:2003-07-23

    IPC分类号: G01R1/067 G01R27/26 G01N27/07

    摘要: Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Einspeisung von Wechselströmen und gleichzeitigen Potential-Messung. Die Vorrichtung ist durch zwei galvanisch entkoppelten Elektrodenflächen in einem Elektrodenspieß (100, 101) gekennzeichnet. Dabei dient als Potentialelektrode die Spitze des Elektrodenspießes. Die Spitze dient somit der Ankopplung an die Probe zwecks Potentialmessung. Der Mantel des Elektrodenspießes dient als Elektrode zur Einspeisung des Wechselstroms. Je nach Eindringtiefe des Elektrodenspießes in die Probe existiert somit eine variable Ankopplungsfläche zur Einspeisung des Wechselstroms in die Probe.
    Vorteilhaft ist die Vorrichtung einfach aufgebaut. Meßfehler durch Polarisationseffekte sind ausgeschlossen. Zur Installation solcher Elektrodenspieße benötigt man gegenüber der Installation von Elektroden aus dem Stand der Technik nur noch die Hälfte der Zeit. Die Untersuchung einer gegebenen Probenfläche bzw. Probeninhalts wird dadurch beschleunigt, insbesondere bei der Untersuchung heterogener Proben, wie Böden, bei denen mit vielen Elektroden gleichzeitig gearbeitet werden muss.

    Verfahren und Vorrichtung zur schnellen tomographischen Messung der elektrischen Leitfähigkeitsverteilung in einer Probe
    2.
    发明公开
    Verfahren und Vorrichtung zur schnellen tomographischen Messung der elektrischen Leitfähigkeitsverteilung in einer Probe 有权
    对于一个样本内导电率分布的快速断层测量的方法和装置

    公开(公告)号:EP1391751A3

    公开(公告)日:2004-04-07

    申请号:EP03017321.5

    申请日:2003-07-31

    IPC分类号: G01V3/06 G01N27/20

    CPC分类号: G01V3/06

    摘要: Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur schnellen tomographischen Messung der Leitfähigkeitsverteilung in einer Probe mittels Einspeisung einer Vielzahl elektrischer Signale in die Probe. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß die elektrischen Signale gleichzeitig in die Probe eingespeist werden und eine Zuordnung gemessener Potentialdifferenzen und/oder Magnetfeldstärken anteilmäßig zu den eingespeisten elektrischen Signalen erfolgt. Die Vorrichtung hierzu umfaßt erste Mittel zur Einspeisung elektrischer Anregungssignale in die Probe sowie zweite Mittel zur Messung der aus der Einspeisung elektrischer Signale resultierenden Potentialdifferenzen und/oder Magnetfeldstärke. Es umfaßt zudem weitere Mittel zur gleichzeitigen Einspeisung der elektrischen Signale in die Probe, und Mittel, die eine Zuordnung der gemessenen Potentialdifferenzen und/oder Magnetfeldstärken anteilmäßig zu den eingespeisten elektrischen Signalen erlauben.

    Verfahren und Vorrichtung zur schnellen tomographischen Messung der elektrischen Leitfähigkeitsverteilung in einer Probe
    3.
    发明公开
    Verfahren und Vorrichtung zur schnellen tomographischen Messung der elektrischen Leitfähigkeitsverteilung in einer Probe 有权
    对于一个样本内导电率分布的快速断层测量的方法和装置

    公开(公告)号:EP1391751A2

    公开(公告)日:2004-02-25

    申请号:EP03017321.5

    申请日:2003-07-31

    IPC分类号: G01V3/06

    CPC分类号: G01V3/06

    摘要: Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur schnellen tomographischen Messung der Leitfähigkeitsverteilung in einer Probe mittels Einspeisung einer Vielzahl elektrischer Signale in die Probe. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß die elektrischen Signale gleichzeitig in die Probe eingespeist werden und eine Zuordnung gemessener Potentialdifferenzen und/oder Magnetfeldstärken anteilmäßig zu den eingespeisten elektrischen Signalen erfolgt. Die Vorrichtung hierzu umfaßt erste Mittel zur Einspeisung elektrischer Anregungssignale in die Probe sowie zweite Mittel zur Messung der aus der Einspeisung elektrischer Signale resultierenden Potentialdifferenzen und/oder Magnetfeldstärke. Es umfaßt zudem weitere Mittel zur gleichzeitigen Einspeisung der elektrischen Signale in die Probe, und Mittel, die eine Zuordnung der gemessenen Potentialdifferenzen und/oder Magnetfeldstärken anteilmäßig zu den eingespeisten elektrischen Signalen erlauben.

    摘要翻译: 对于一个样本内的电导率分布通过电激励信号的施加到样品的几乎断层测量,方法,由此所述信号被施加同时测量和电位差或测量的磁场强度成比例地分配给所施加的激励信号。 独立claimsoft被用于为样本内的电导率分布快速断层测量的装置制成。

    Vorrichtung zur gleichzeitigen Einspeisung von elektrischen Signalen und zur Messung des Potentials in Proben
    4.
    发明公开
    Vorrichtung zur gleichzeitigen Einspeisung von elektrischen Signalen und zur Messung des Potentials in Proben 审中-公开
    装置的电信号的同时供给和用于测量样品中的潜在

    公开(公告)号:EP1391737A2

    公开(公告)日:2004-02-25

    申请号:EP03016763.9

    申请日:2003-07-23

    IPC分类号: G01R1/067

    摘要: Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Einspeisung von Wechselströmen und gleichzeitigen Potential-Messung. Die Vorrichtung ist durch zwei galvanisch entkoppelten Elektrodenflächen in einem Elektrodenspieß (100, 101) gekennzeichnet.
    Dabei dient als Potentialelektrode die Spitze des Elektrodenspießes. Die Spitze dient somit der Ankopplung an die Probe zwecks Potentialmessung. Der Mantel des Elektrodenspießes dient als Elektrode zur Einspeisung des Wechselstroms. Je nach Eindringtiefe des Elektrodenspießes in die Probe existiert somit eine variable Ankopplungsfläche zur Einspeisung des Wechselstroms in die Probe.
    Vorteilhaft ist die Vorrichtung einfach aufgebaut. Meßfehler durch Polarisationseffekte sind ausgeschlossen. Zur Installation solcher Elektrodenspieße benötigt man gegenüber der Installation von Elektroden aus dem Stand der Technik nur noch die Hälfte der Zeit. Die Untersuchung einer gegebenen Probenfläche bzw. Probeninhalts wird dadurch beschleunigt, insbesondere bei der Untersuchung heterogener Proben, wie Böden, bei denen mit vielen Elektroden gleichzeitig gearbeitet werden muss.

    摘要翻译: 该装置具有在电极布置两个电去耦的表面,由此所述表面中的一个用于提供可选的电刺激信号,另一个用于电位测量。 电位测量表面更小,尤其是爱通过的至少10倍,比表面为供给电刺激信号。 因此独立权利要求中包括为如下:(a),用于测量导电性的装置; (B),用于测量三维断层摄影电导率分布的装置。