L'invention concerne un support d'échantillon destiné à supporter un échantillon devant subir une détection et/ou une analyse par une méthode de détection photothermique mettant en oeuvre un faisceau pompe d'irradiation de l'échantillon et un faisceau sonde de détection et/ou d'analyse. Il comprend un substrat supportant un empilement de couches minces diélectriques formant un miroir de Bragg qui est destiné à supporter l'échantillon, l'empilement de couches minces diélectriques permettant de réfléchir le faisceau pompe qui lui parvient.
L'invention concerne également un dispositif de détection et/ou d'analyse d'un échantillon par une méthode photothermique, ledit dispositif comprenant un support d'échantillon selon l'invention, un moyen d'éclairage de l'échantillon supporté par ledit support et fournissant un faisceau pompe, un moyen de détection et/ou de mesure de l'absorption ou de la réflexion du faisceau pompe par l'échantillon lorsqu'il est éclairé par ledit moyen d'éclairage.
Enfin, l'invention concerne une utilisation particulière dudit dispositif.