发明公开
- 专利标题： Verfahren zur Dichtigkeitsprüfung galvanischer Elemente
- 专利标题（英）： Procedure for testing the leak tightness of galvanic elements
- 专利标题（中）： 一种用于电偶元件的泄漏检测方法
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申请号： EP03025838.8申请日： 2003-11-11
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公开(公告)号： EP1437585A3公开(公告)日： 2005-09-07
- 发明人: Haug, Peter, Dr. , Birke, Peter, Dr. , Hald, Rainer , Holl, Konrad, Dr. , Ilic, Dejan, Dr.
- 申请人： VARTA Microbattery GmbH
- 申请人地址： Am Leineufer 51 30419 Hannover DE
- 专利权人： VARTA Microbattery GmbH
- 当前专利权人： VARTA Microbattery GmbH
- 当前专利权人地址： Am Leineufer 51 30419 Hannover DE
- 代理机构： Patentanwälte Ruff, Wilhelm, Beier, Dauster & Partner
- 优先权： DE10301430 20030113
- 主分类号： G01M3/36
- IPC分类号： G01M3/36 ; H01M10/42
摘要：
Bei einem Verfahren zur Dichtigkeitsprüfung galvanischer Elemente, die ein aus einer Metallfolie oder Metall/Kunststoffverbundfolie bestehendes dünnes flexibles Gehäuse besitzen, wird das galvanische Element nach Zusammenbau und gegebenenfalls Formation in einem geschlossenen Behälter einem Überdruck und anschließend einem Unterdruck ausgesetzt und eine auftretende Dickenänderung wird gemessen. Oder das galvanische Element wird nach Zusammenbau, Formation und Lagerung in einem geschlossenen Behälter einem Unterdruck ausgesetzt und eine auftretende Dickenänderung wird gemessen.
公开/授权文献
- EP1437585B1 Verfahren zur Dichtigkeitsprüfung galvanischer Elemente 公开/授权日：2008-08-27
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