发明公开
EP1672643A1 Cellule mémoire SRAM 审中-公开
SRAM存储单元

Cellule mémoire SRAM
摘要:
L'invention concerne un procédé de formation d'une résistance (R3, R5) de forte valeur dans un substrat (40), comportant les étapes suivantes :

former un empilement d'une première couche isolante (42), d'une première couche conductrice (44), d'une deuxième couche isolante (46), et d'une troisième couche isolante (48), la troisième couche isolante étant gravable sélectivement par rapport à la deuxième couche isolante ;
graver l'empilement, de façon à découvrir le substrat en conservant l'empilement sous la forme d'une ligne (Li) ;
former sur les parois latérales de la ligne des espaceurs isolants (50) ;
procéder à une croissance épitaxiale d'un semi-conducteur monocristallin (41) sur le substrat, de part et d'autre de ladite ligne ;
retirer sélectivement la troisième couche isolante (48) de façon à découvrir la deuxième couche isolante (46) ; et
déposer et graver un conducteur (M3) de façon à remplir la cavité formée par le retrait précédent.
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