发明公开
EP1744231A2 Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle von Markierungen
审中-公开
Vorrichtung und Verfahren zurQualitätskontrollevon Markierungen
- 专利标题： Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle von Markierungen
- 专利标题（英）： Device and method for quality control of markings
- 专利标题（中）： Vorrichtung und Verfahren zurQualitätskontrollevon Markierungen
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申请号： EP06117057.7申请日： 2006-07-12
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公开(公告)号： EP1744231A2公开(公告)日： 2007-01-17
- 发明人: Fröhlich, Konrad
- 申请人： Borries Markier-Systeme GmbH
- 申请人地址： Siemensstrasse 3 72124 Pliezhausen DE
- 专利权人： Borries Markier-Systeme GmbH
- 当前专利权人： Borries Markier-Systeme GmbH
- 当前专利权人地址： Siemensstrasse 3 72124 Pliezhausen DE
- 代理机构： Farago, Peter Andreas
- 优先权： DE102005032903 20050712; DE102005037411 20050808
- 主分类号： G05B19/401
- IPC分类号： G05B19/401
摘要：
Die vorliegende Erfindung beschreibt eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Vermessung der Prägetiefe von Markierungen an einem Werkstück, die einen an einer Markiervorrichtung mit NC-Steuerung angebrachten Sensor für die Erfassung der Prägetiefe umfasst, wobei die NC-Steuerung mit der Elektronik des Sensors integriert ist, so dass die Steuerdaten der NC-Steuerung ebenfalls für die Positionierung und wahlweise Parametrierung des Sensors sowie zur positionsabhängigen Bewertung der Messwerte zur Verfügung stehen zur Verfügung stehen.
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