发明授权
EP1873539B1 Scan-based testing of devices implementing a test clock control structure ("TCCS")
有权
基于扫描的与TESTWATCH控制结构的测试装置
- 专利标题： Scan-based testing of devices implementing a test clock control structure ("TCCS")
- 专利标题（中）： 基于扫描的与TESTWATCH控制结构的测试装置
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申请号： EP07252561.1申请日： 2007-06-25
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公开(公告)号： EP1873539B1公开(公告)日： 2009-11-04
- 发明人: Sul, Chinsong
- 申请人： Silicon Image, Inc.
- 申请人地址： 1060 East Arques Avenue Sunnyvale, California 94085 US
- 专利权人： Silicon Image, Inc.
- 当前专利权人： Silicon Image, Inc.
- 当前专利权人地址： 1060 East Arques Avenue Sunnyvale, California 94085 US
- 代理机构： Hackney, Nigel John
- 优先权： US476457 20060627
- 主分类号： G01R31/3185
- IPC分类号： G01R31/3185 ; G01R31/319 ; G06F11/27
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