发明授权
- 专利标题： Interface test circuitry and methods
- 专利标题（中）： 接口测试电路及方法
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申请号： EP07254313.5申请日： 2007-10-31
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公开(公告)号： EP1924020B1公开(公告)日： 2010-09-15
- 发明人: Sul, Chinsong , Kim, Heon C. , Ahn, Gijung
- 申请人： Silicon Image, Inc.
- 申请人地址： 1060 East Arques Avenue Sunnyvale, California 94085 US
- 专利权人： Silicon Image, Inc.
- 当前专利权人： Silicon Image, Inc.
- 当前专利权人地址： 1060 East Arques Avenue Sunnyvale, California 94085 US
- 代理机构： Hackney, Nigel John
- 优先权： US859355P 20061115; US742358 20070430
- 主分类号： H04L1/24
- IPC分类号： H04L1/24
公开/授权文献
- EP1924020A1 Interface test circuitry and methods 公开/授权日：2008-05-21
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