发明公开
- 专利标题： PROBE STRUCTURES WITH ELECTRONIC COMPONENTS
- 专利标题（中）： 电子元件探针结构
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申请号： EP07755797.3申请日： 2007-04-19
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公开(公告)号： EP2013632A2公开(公告)日： 2009-01-14
- 发明人: KHANDROS, Igor K. , GRITTERS, John K.
- 申请人： FormFactor, Inc.
- 申请人地址： 7005 Southfront Road Livermore, CA 94551 US
- 专利权人： FormFactor, Inc.
- 当前专利权人： FormFactor, Inc.
- 当前专利权人地址： 7005 Southfront Road Livermore, CA 94551 US
- 代理机构： Harris, Ian Richard
- 优先权： US379760 20060421
- 国际公布： WO2007124050 20071101
- 主分类号： G01R31/02
- IPC分类号： G01R31/02
摘要：
A probe apparatus can include a substrate, a contact structure attached to the substrate, and an electronic component electrically connected to the contact structure. The electronic component can be attached to the contact structure.
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