发明公开
- 专利标题： X-Ray diffraction and fluorescence
- 专利标题（中）： Röntgenstrahlbeugungund Fluoreszenz
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申请号： EP10188065.6申请日： 2010-10-19
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公开(公告)号： EP2315009A1公开(公告)日： 2011-04-27
- 发明人: Kharchenko, Alexander , van den Hoogenhof, Walter , Meier, Roger
- 申请人： PANalytical B.V.
- 申请人地址： Lelyweg 1 7602 EA Almelo NL
- 专利权人： PANalytical B.V.
- 当前专利权人： PANalytical B.V.
- 当前专利权人地址： Lelyweg 1 7602 EA Almelo NL
- 代理机构： Greene, Simon Kenneth
- 优先权： US604305 20091022
- 主分类号： G01N23/20
- IPC分类号： G01N23/20 ; G01N23/207 ; G01N23/22 ; G01N23/223
摘要：
An instrument capable of both X-ray diffraction, XRD, and X-ray fluorescence measurements, XRF, arranges an X-ray source 10 creating an incident X-ray beam directed to a sample on a sample stage. An X-ray detection system is mounted at a fixed angle 2θ for high energy energy dispersive XRD For XRF, an X-ray detection system is used
公开/授权文献
- EP2315009B1 X-Ray diffraction and fluorescence 公开/授权日：2017-07-12
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