发明授权
EP2365659B1 Procédé de test de la résistance d'un circuit intégré à une analyse par canal auxiliaire
有权
Testverfahren des Widerstands eines integrierten Schaltkreisesgegenübereinem Seitenkanalangriff
- 专利标题： Procédé de test de la résistance d'un circuit intégré à une analyse par canal auxiliaire
- 专利标题（英）： Method to test the resistance of an integrated circuit to a side channel attack
- 专利标题（中）： Testverfahren des Widerstands eines integrierten Schaltkreisesgegenübereinem Seitenkanalangriff
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申请号： EP11001428.9申请日： 2011-02-21
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公开(公告)号： EP2365659B1公开(公告)日： 2017-04-12
- 发明人: Feix, Benoît , Gagnerot, Georges , Roussellet, Mylène , Verneuil, Vincent
- 申请人： INSIDE SECURE
- 申请人地址： Rue de la Carrière de Bachasson, CS 70025 Arteparc Bachasson, Bât. A 13590 Meyreuil FR
- 专利权人： INSIDE SECURE
- 当前专利权人： INSIDE SECURE
- 当前专利权人地址： Rue de la Carrière de Bachasson, CS 70025 Arteparc Bachasson, Bât. A 13590 Meyreuil FR
- 代理机构： Marchand, André
- 优先权： FR1000833 20100301; US750846 20100331; FR1000834 20100301; US750953 20100331
- 主分类号： G06F7/72
- IPC分类号： G06F7/72 ; H04L9/00 ; H04L9/30
公开/授权文献
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