发明授权
- 专利标题： METHOD AND INSTRUMENT FOR OPTICAL THICKNESS MEASUREMENT OF TRANSPARENT OR SEMITRANSPARENT MATERIALS
- 专利标题（中）： 方法和手段光学厚度测量透明或半透明的材料
-
申请号： EP10711724.4申请日： 2010-02-04
-
公开(公告)号： EP2394135B1公开(公告)日： 2013-11-27
- 发明人: BANDERA, Andrea , DONINI, Maurizio , PASQUALI, Andrea
- 申请人： Nirox S.r.l.
- 申请人地址： Piazza Martiri della Resistenza 2 25010 Acquafredda (BS) IT
- 专利权人： Nirox S.r.l.
- 当前专利权人： Nirox S.r.l.
- 当前专利权人地址： Piazza Martiri della Resistenza 2 25010 Acquafredda (BS) IT
- 代理机构： Sangiacomo, Ines
- 优先权： ITBS20090020 20090209
- 国际公布： WO2010089793 20100812
- 主分类号： G01B11/06
- IPC分类号： G01B11/06 ; G01B9/02
公开/授权文献
信息查询
