发明公开
EP2506027A1 Abbildungssystem für Sternsensoren mit zwei Brennweiten
有权
AbbottungsystemfürSternsensoren mit zwei Brennweiten
- 专利标题: Abbildungssystem für Sternsensoren mit zwei Brennweiten
- 专利标题(英): Mapping system for star sensors with two focal lengths
- 专利标题(中): AbbottungsystemfürSternsensoren mit zwei Brennweiten
-
申请号: EP12157653.2申请日: 2012-03-01
-
公开(公告)号: EP2506027A1公开(公告)日: 2012-10-03
- 发明人: Kirschstein, Steffen , Dr. Schmidt, Uwe
- 申请人: Jena-Optronik GmbH
- 申请人地址: Prüssingstrasse 41 07745 Jena DE
- 专利权人: Jena-Optronik GmbH
- 当前专利权人: Jena-Optronik GmbH
- 当前专利权人地址: Prüssingstrasse 41 07745 Jena DE
- 代理机构: Ege, Guido
- 优先权: DE102011001624 20110329; DE102011001968 20110412
- 主分类号: G01S3/786
- IPC分类号: G01S3/786 ; G02B23/02 ; G05D1/08 ; B64G1/36 ; G01C21/02
摘要:
Die Erfindung betrifft einen Sternsensor (1) mit einem optischen Abbildungssystem (2) und ein Verfahren zu dessen Betrieb mit einer ein um eine optische Achse (7) vorgegebenes Sichtfeld (17, 19) auf eine Sensorfläche (6) eines Detektors (5) entlang eines Strahlengangs (10, 11) abbildenden Optik (4). Um die Genauigkeit und Auflösung des Sternsensors (1) bei ausreichendem Weitwinkel zur Identifizierung von positionsgebenden Sternausschnitten zu erhöhen, wird die Optik (4) in Form von zwei Teilobjektiven (8, 9) mit unterschiedlichen, gleichzeitig auf die Sensorfläche (6) abbildenden Brennweiten ausgebildet und die vom Detektor (5) erfassten Lichtmuster (15, 22) der beiden Brennweiten werden in einer Recheneinrichtung (3) voneinander getrennt, wobei das Teilobjektiv (8) aus einem zentralen Objektiv gegebener Brennweite und das Teilobjektiv (9) aus einem Spiegellinsenobjektiv größerer Brennweite gebildet ist.
公开/授权文献
- EP2506027B1 Abbildungssystem für Sternsensoren mit zwei Brennweiten 公开/授权日:2015-10-07
信息查询