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发明公开
EP2551654A2 Method and system for vicarious spatial characterization of a remote image sensor 审中-公开
方法和系统，用于远程图像传感器的副空间表征

  • 专利标题： Method and system for vicarious spatial characterization of a remote image sensor
  • 专利标题（中）： 方法和系统，用于远程图像传感器的副空间表征
  • 申请号： EP12173296.0
    申请日： 2012-06-22
  • 公开(公告)号： EP2551654A2
    公开(公告)日： 2013-01-30
  • 发明人: Silny, John F. , Schiller, Stephen J.
  • 申请人： Raytheon Company
  • 申请人地址： 870, Winter Street Waltham MA 02451 US
  • 专利权人： Raytheon Company
  • 当前专利权人： Raytheon Company
  • 当前专利权人地址： 870, Winter Street Waltham MA 02451 US
  • 代理机构： Murphy, Colm Damien
  • 优先权： US201113194185 20110729
  • 主分类号： G01J1/08
  • IPC分类号： G01J1/08 ;  G01J1/42 ;  G01J3/28
Method and system for vicarious spatial characterization of a remote image sensor
摘要：
A method and a system for vicarious characterization of a remote sensing sensor are described. The system.
摘要（中）：

的方法和用于遥感传感器的替代表征的系统进行说明。 该系统。

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