发明授权
- 专利标题: Vorrichtung und Verfahren zur interferometrischen Vermessung eines Objekts
- 专利标题(英): Device and method for interferometric measuring of an object
- 专利标题(中): 的装置和方法的对象的干涉测量
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申请号: EP12188513.1申请日: 2012-10-15
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公开(公告)号: EP2589924B1公开(公告)日: 2016-04-20
- 发明人: Schüssler, Matthias , Rembe, Christian , Dräbenstedt, Alexander , Kowarsch, Robert , Ochs, Wanja
- 申请人: Polytec GmbH
- 申请人地址: Polytec Platz 1-7 76337 Waldbronn DE
- 专利权人: Polytec GmbH
- 当前专利权人: Polytec GmbH
- 当前专利权人地址: Polytec Platz 1-7 76337 Waldbronn DE
- 代理机构: Lemcke, Brommer & Partner Patentanwälte Partnerschaft mbB
- 优先权: DE102011085599 20111102
- 主分类号: G01H9/00
- IPC分类号: G01H9/00
公开/授权文献
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