发明公开
EP3187859A1 VERFAHREN ZUR ERMITTLUNG VON OBERFLÄCHENDEFEKTEN SOWIE COMPUTER-PROGRAMMPRODUKT 审中-公开
确定表面缺陷的方法和计算机程序产品

VERFAHREN ZUR ERMITTLUNG VON OBERFLÄCHENDEFEKTEN SOWIE COMPUTER-PROGRAMMPRODUKT
摘要:
Verfahren zur Ermittlung von Oberflächendefekten einer Oberfläche (1a) eines Verkleidungsteils (1), wobei das Verfahren auf einem ersten Datensatz von Soll-Punkten einer Soll-Oberfläche des Verkleidungsteils innerhalb eines ersten vorgegebenen Prüfbereichs basiert, das Verfahren aufweisend die folgenden Schritte:
- aus einer ersten Mehrzahl von entlang zueinander und entlang einer Hauptrichtung verlaufenden Reihen von Soll-Punkten Ermittlung einer entlang zu diesen verlaufenden Soll-Referenzreihe (SR) von Soll-Referenzpunkten, die Mittelwerte von Höhenkoordinaten-Werten von jeweils einem der quer zur Hauptrichtung gelegenen Soll-Punkte der Reihen von Soll-Punkte sind,
- Bildung einer ersten Näherungs-Funktion (L1) als Näherung für den Verlauf der Soll-Referenzpunkte der Soll-Referenzreihe,
- mittels eines Oberflächen-Messgeräts an einer Ist-Oberfläche eines Exemplars des Verkleidungsteils Ermittlung eines zweiten Datensatzes von Ist-Punkten,
- Ermittlung einer entlang zu den Reihen von Ist-Punkten verlaufenden Ist-Referenzreihe von Ist-Referenzpunkten, die Mittelwerte der Höhenkoordinaten-Werte von jeweils einem der quer zur Hauptrichtung gelegenen Ist-Punkte der Reihen von Ist-Punkte sind,
- Bildung einer zweiten Näherungs-Funktion als Näherung für den Verlauf der Ist-Referenzpunkte der Ist-Referenzreihe,
- Vergleich der ersten Näherungs-Funktion und der zweiten Näherungs-Funktion und Ermittlung eines Oberflächendefekts,

sowie Computer-Programmprodukt.
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