- 专利标题： ITEM INSPECTION APPARATUS AND ITEM INSPECTION METHOD
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申请号： EP16860258.9申请日： 2016-10-27
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公开(公告)号： EP3369683B1公开(公告)日： 2020-11-25
- 发明人: PARK, Nam Kyu , KIM, Joo Hyuk , LEE, Ho Jun
- 申请人： Koh Young Technology Inc.
- 申请人地址： 14F, 15F 53 Gasan Digital 2-ro Geumcheon-gu Seoul 08588 KR
- 专利权人： Koh Young Technology Inc.
- 当前专利权人： Koh Young Technology Inc.
- 当前专利权人地址： 14F, 15F 53 Gasan Digital 2-ro Geumcheon-gu Seoul 08588 KR
- 代理机构： M. Zardi & Co S.A.
- 优先权： KR20150152321 20151030
- 国际公布： WO2017074075 20170504
- 主分类号： B65G47/22
- IPC分类号： B65G47/22 ; B65G47/244 ; B65G47/248 ; B65G37/00 ; B65G21/10 ; B65G43/00 ; G01N21/88 ; G01B11/00 ; B65G47/252 ; G01N21/95
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