L'invention est un procédé de caractérisation d'un objet (20) comportant les étapes suivantes :
a) disposition de l'objet entre une source d'irradiation (10) et un détecteur de rayonnement (30) ;
b) irradiation de l'objet par la source d'irradiation et détection d'un rayonnement transmis par l'objet (14) à l'aide du détecteur de rayonnement, le détecteur de rayonnement définissant plusieurs pixels ;
c) pour chaque pixel (30 i ), formation d'un spectre d'énergie ( S i ) du rayonnement détecté, chaque spectre comportant au moins deux bandes d'énergie distinctes ;
d) à partir de chaque spectre formé lors de l'étape c), estimation, en chaque pixel, d'au moins deux épaisseurs équivalentes ( L̂ i , 1 ... L̂ i , M , L̂' i ,1 ... L̂' i , M ) respectivement associées à au moins deux matériaux de base ( mat 1 ... mat M , mat' 1 ... mat' M ) ;
le procédé étant caractérisé en ce qu'il comporte, suite à l'étape d), les étapes suivantes :
e) à partir des épaisseurs équivalentes résultant de l'étape d), calcul d'un paramètre structurel ( P i ) de l'objet en différents pixels (30 i );
f) lissage spatial du paramètre structurel calculé en plusieurs pixels ;
g) à partir du paramètre structurel lissé en chaque pixel, et à partir de chaque spectre formé lors de l'étape c), estimation, en chaque pixel, d'épaisseurs équivalentes régularisées ( L̂ i,m =1 | P 1 *... L̂ i,m =M | P i *, L̂' i,m =1 | P i *... L̂' i,m = M | P i *).