利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册

搜索结果

20 条记录 (耗时 0.015 秒)

    DISPOSITIF D'IMAGERIE SANS LENTILLE
    1.
    发明公开
    DISPOSITIF D'IMAGERIE SANS LENTILLE 审中-公开

    公开(公告)号：EP4310479A1

    公开(公告)日：2024-01-24

    申请号：EP23184533.0

    申请日：2023-07-10

    申请人： Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives

    发明人： MERMET, Xavier ,  PAULUS, Caroline

    IPC分类号： G01N15/14 ,  G01N21/01 ,  G02B21/00 ,  G01N15/02 ,  G01N21/47 ,  G01N15/00

    摘要： L'invention concerne un dispositif d'imagerie sans lentille, comportant :
    - Une partie émettrice comportant une source lumineuse (1) configurée pour émettre un faisceau lumineux suivant un sens d'émission et destiné à suivre un trajet optique,
    - Une partie réceptrice intégrant une carte électronique (3) portant un capteur (2) ayant une surface de capture (20) plane destinée à recevoir ledit faisceau lumineux selon une direction normale à ladite surface de capture,
    - Ledit trajet optique étant découpé en plusieurs tronçons optiques successifs, chaque tronçon optique correspondant à une direction de propagation distincte du faisceau lumineux.

    PROCEDE ET APPAREIL DE CARACTERISATION D'UN MATERIAU PAR DIFFUSION D'UN RAYONNEMENT ELECTROMAGNETIQUE
    6.
    发明公开
    PROCEDE ET APPAREIL DE CARACTERISATION D'UN MATERIAU PAR DIFFUSION D'UN RAYONNEMENT ELECTROMAGNETIQUE 审中-公开
    出于表征材料的方法和设备被分散无线电波

    公开(公告)号：EP2769209A1

    公开(公告)日：2014-08-27

    申请号：EP12798842.6

    申请日：2012-10-19

    申请人： Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives

    发明人： PAULUS, Caroline ,  TABARY, Joachim

    IPC分类号： G01N23/203 ,  G01V5/00

    CPC分类号： G01N23/20091 ,  G01N23/20066 ,  G01N23/203 ,  G01N2223/063 ,  G01N2223/601

    摘要： A method for characterising a material comprising the steps consisting of: • a. directing a first collimated beam of electromagnetic radiation (FIX), such as X-rays, at a sample (E) of the material to be characterised; • b. acquiring the spectrum of a second beam of electromagnetic radiation, obtained by scattering, such as Compton scattering, of said first beam using an elementary volume (8V) of said sample according to a predefined scattering angle Θ; • said steps a and b being repeated once or several times, each time modifying the lengths of the paths of the first and second beam inside said material, while keeping their ratio ε and said scattering angle Θ substantially constant; and • c. estimating one or several characteristic properties of said material using the spectra acquired during the repetitions of step b; • characterised in that said step c is implemented by means of at least one multivariate model. Apparatus for implementing such a method.

    摘要翻译： 本发明涉及一种设备，用于识别具有的对象的材料：和X光子源和光谱检测器，所述源极与入射光束照射物体的检测器从扩散后的入射光束测量反向散射光束的大小 在该材料的和反向散射的光束，入射并在扩散（θ）的角度形成反向散射光束的X光子的能量的体积; 用于调节源，检测器与物体之间的位置，以便使体积为在不同深度处具有恒定的角度，用于处理在两个位置的两个量值，并且在一个位置上的能量的装置和用于在计算的结构 衰减因子（μmateriau（E0，E1，ε）），用于估计该材料的密度（ρ）的结构。

    PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION D'UN MATÉRIAU
    7.
    发明公开
    PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION D'UN MATÉRIAU 有权
    VERFAHREN ZUR CHARAKTERISIERUNG EINES材料

    公开(公告)号：EP2769208A1

    公开(公告)日：2014-08-27

    申请号：EP11824334.4

    申请日：2011-10-21

    申请人： Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives

    发明人： PAULUS, Caroline ,  TABARY, Joachim

    IPC分类号： G01N23/203 ,  G01V5/00

    CPC分类号： G01N23/20 ,  G01N23/203

    摘要： The invention relates to a method for characterizing a material, comprising: arranging a piece (100) of the material near a source of ionizing photons (10) and a detector (11); irradiating the piece (100) with photons and acquiring, via the detector, two energy spectra of a photon flux (X
    1 (E
    1 ), X
    2 (E
    1 )) that has been diffused into the material at various depths (P1, P2), the ratio (ε) of the photon paths in the material before and after diffusion remaining constant; determining a combined attenuation function (μ'(Ε
    1 )) with the spectra and the paths; selecting a plurality of energy ranges (BE, HE.1, HE.2) from said function; calculating, in each range, a quantity (η, η') that is representative of the function; and estimating, from at least two of said quantities, a physical characteristic of the material by comparison with the same quantities obtained from known materials.

    摘要翻译： 一种用于表征材料的方法，包括：将一块材料放置在离子化光子源和检测器附近; 用光子照射该片，并通过检测器获取已经在不同深度扩散到材料中的光子通量的两个能谱，扩散前后材料中光子路径的比例保持不变; 用光谱和路径确定组合的衰减函数; 从所述功能中选择多个能量范围; 在每个范围内计算代表功能的数量; 并从所述数量中的至少两个估算出与从已知材料获得的相同数量的材料的物理特性。

    PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION DE MICROORGANISMES
    10.
    发明公开
    PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION DE MICROORGANISMES 审中-公开

    公开(公告)号：EP3982334A1

    公开(公告)日：2022-04-13

    申请号：EP21201607.5

    申请日：2021-10-08

    申请人： Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives

    发明人： CIONI, Olivier ,  BORDY, Thomas ,  DEFORCEVILLE, Camille ,  PAULUS, Caroline

    IPC分类号： G06V20/69 ,  G01N15/14 ,  G01N15/10

    摘要： Procédé de caractérisation d'un échantillon, comportant des microorganismes disposés au contact d'un milieu propice à leur développement, le procédé comportant les étapes suivantes:
    a) illumination de l'échantillon (10) par une source de lumière (11);
    b) à l'aide d'un capteur d'image (16), obtention d'au moins d'une image de l'échantillon ( I i ), représentant l'échantillon à un instant de mesure ( t i ) ;
    c) détection d'une particule, susceptible d'être un microorganisme (10 j ), sur l'image de l'échantillon, et détermination d'une position ( x i , y j ) de la particule dans l'image de l'échantillon.
    d) définition d'une région d'intérêt ( ROI i,j ) dans l'image de l'échantillon, s'étendant autour de la position (x i , y j ) de la particule déterminée lors de l'étape c) ;
    e) formation d'une vignette ( V i,j ), correspondant à une partie de l'image de l'échantillon dans la région d'intérêt résultant de d) ;
    f) utilisation de la vignette formée dans e) en tant que donnée d'entrée d'un algorithme d'intelligence artificielle supervisé ;
    g) à partir de l'algorithme d'intelligence artificielle supervisé, détermination de l'appartenance de la particule à une classe de viabilité, la classe de viabilité rassemblant chaque microorganisme se développant dans l'échantillon. Figure d'abrégé - figure 2B