- 专利标题： SURFACE TOPOGRAPHY MEASUREMENT SYSTEMS
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申请号： EP18764114.7申请日： 2018-03-06
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公开(公告)号： EP3593529A1公开(公告)日： 2020-01-15
- 发明人: ROHALY, Janos , ADELSON, Edward H.
- 申请人： Gelsight, Inc.
- 申请人地址： 179 Bear Hill Road Unit 202 Waltham, MA 02451-1063 US
- 专利权人： Gelsight, Inc.
- 当前专利权人： Gelsight, Inc.
- 当前专利权人地址： 179 Bear Hill Road Unit 202 Waltham, MA 02451-1063 US
- 代理机构： Black, Diego
- 优先权： US201762467783P 20170306
- 国际公布： WO2018165206 20180913
- 主分类号： H04N13/20
- IPC分类号： H04N13/20
公开/授权文献
- EP3593529B1 SURFACE TOPOGRAPHY MEASUREMENT SYSTEMS 公开/授权日：2022-07-06
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